安捷伦(Agilent)科技公司日前宣布：安捷伦与海力士半导体公司(Hynix Semiconductor Inc.)携手推出一款高带宽、高性能的长线 ZIF(零插入力)探针，该探针经过优化，适用于 DDR(双数据速率)和 GDDR(图形双数据速率)SDRAM 的验证测试。当距离探测信号较远时，长线 ZIF 探针使工程师能够对高速信号进行的测量。这些探针与安捷伦屡获殊荣的 InfiniiMax 和 ZIF 探测系统结合使用，可提高每个焊接件的可用性并降低测试成本。

　　该探测选件解决了 DDR 设计中的一个基本难题：使工程师能够在保持信号完整性的同时，对 DRAM 芯片上难以触及的位置进行探测。随着 DDR 和 GDDR SDRAM 器件的速度不断提高，设计裕量变得越来越少，探测系统的性能也变得更加重要。长线 ZIF 探针解决了这个探测难题。

　　DDR 和 GDDR 验证的另一个难题是根据 JEDEC 技术指标需要测试大量信号。长线 ZIF 探针使工程师能够轻松地对 SDRAM 设备上需要探测的多个信号进行切换。

　　长线ZIF探针完全满足对 DDR 存储器设计进行全面一致性测试的需求。